Ultraszybka dioda 1000V TO-247 – onsemi RURG, STTH, Vishay VS, IXYS DSEI, SiC Schottky
Pytanie
ultraszybka dioda 1000v w obudowie to-247
Odpowiedź Sztucznej Inteligencji
Bezpośrednia odpowiedź na pytanie
- Tak, na rynku dostępnych jest wiele ultraszybkich (ultra-/hyper-fast) diod prostowniczych 1 000 V w obudowie TO-247.
- Najczęściej spotykane serie to m.in. onsemi RURG-x0100, STMicroelectronics STTH-x010, Vishay VS-xPF/EPF-10, IXYS/Littelfuse DSEI-xx-10A oraz diody SiC Schottky 1 200 V (np. Infineon CoolSiC™ IDW/IDH-xx-C5), które w większości aplikacji mogą zastąpić diodę 1 000 V.
- Przy doborze należy zweryfikować: prąd średni IF(AV), czas odzyskiwania trr (lub ładunek Qrr/Qc), spadek VF, a także warunki chłodzenia obudowy TO-247.
Szczegółowa analiza problemu
1. Kluczowe parametry określające „ultraszybkość”
- Czas odzyskiwania zdolności zaporowej
• klasyczne Si FRED: 35–120 ns (t_rr)
• nowoczesne SiC Schottky: praktycznie brak ładunku mniejszościowego ⇒ t_rr ≈ 0, zamiast tego podaje się ładunek pojemnościowy Q_c (kilkadziesiąt nC)
- Ładunek odzyskiwania Q_rr/Q_c – bezpośrednio definiuje straty przełączania P_sw ≈ V_R · Q_rr · f_sw.
- Spadek napięcia w kierunku przewodzenia VF – decyduje o stratach przewodzenia P_cond = VF · I_F(AV).
- Charakterystyka „soft recovery” – im „miększe” wyłączanie, tym mniejsze przepięcia i EMI.
2. Zestawienie popularnych diod 1 000 V w TO-247
Model |
Technologia |
VRRM |
IF(AV) (100 °C) |
t_rr / Q_c |
VF typ @ IF |
Uwagi / źródło* |
RURG30100 |
Si FRED |
1 000 V |
30 A |
60 ns |
1,6 V |
onsemi – ogólny „work-horse” |
RURG50100 |
Si FRED |
1 000 V |
50 A |
80 ns |
1,7 V |
onsemi |
RURG80100 |
Si FRED |
1 000 V |
80 A |
200 ns |
1,9 V |
onsemi (źródło RS) |
STTH3010 (W/WT) |
Si FRED |
1 000 V |
30 A |
90 ns |
1,8 V |
STMicro |
STTH6010W |
Si FRED |
1 000 V |
60 A |
115 ns |
2,0 V |
STMicro (RS) |
VS-40EPF10 |
Si FRED Pt® |
1 000 V |
40 A |
45 ns |
1,8 V |
Vishay (link w odpowiedzi online) |
DSEI60-10A |
Si FRED |
1 000 V |
60 A |
40 ns |
2,2 V |
IXYS/Littelfuse |
APT40DQ100B |
Si FRED („soft recovery”) |
1 000 V |
80 A |
25 ns |
1,9 V |
Microsemi / Microchip |
(alternatywa) IDW30G120C5** |
SiC Schottky |
1 200 V |
30 A |
Q_c ≈ 37 nC |
1,7 V |
Infineon – niskie straty przełączania |
* Źródła: karty katalogowe producentów, RS Components, Vishay on-line selector, onsemi.
** Diody SiC zazwyczaj produkowane są w wersjach 650 V i 1 200 V; 1 200 V można stosować zamiast 1 000 V z minimalnym wpływem na parametry układu.
3. Kryteria wyboru diody
- Prąd średni i szczytowy – dobierać z 30-50 % zapasem do wartości roboczej.
- Częstotliwość przełączania:
• ≤ 50 kHz – Si FRED zwykle wystarczająca, tańsza.
• ≥ 50–100 kHz – SiC Schottky (lub FRED < 35 ns) redukują P_sw i radiator.
- EMI / topologia – „soft recovery” w indukcyjnych obwodach (falowniki, PFC) minimalizuje przepięcia dv/dt.
- Termika – obudowa TO-247: RθJC 0,3-0,8 K/W, wymaga planu chłodzenia (radiator, pasta).
- Dostępność, cena, certyfikaty (RoHS, AEC-Q101).
4. Typowe zastosowania
• prostowniki HF w SMPS i PFC,
• diody swobodnego koła w mostkach półmostkowych/falownikach IGBT,
• snubbery RC-D,
• ładowarki EV/DC-DC o wyższych napięciach.
Aktualne informacje i trendy
- Przejście z krzemowych FRED na SiC Schottky przy napięciach ≥ 650 V – >96 % sprawności przy wyższych f_sw, mniejsze radiatory, integracja z GaN/SiC MOSFET.
- Nowe generacje (Infineon CoolSiC™ G6, Wolfspeed C6) oferują Q_c < 20 nC przy 10 A i VR=1 200 V.
- ST wprowadza serię STPOWER SiC D2PAK-7L/TO-247-4 z wyodrębnionym pinem kelvinowskim do szybszego odprowadzania ładunku.
Wspierające wyjaśnienia i detale
- t_rr definiuje czas od momentu przełączenia diody z przewodzenia do stanu blokowania (0,25 • IF).
- Q_rr/Qc wpływa na straty wg wzoru:
\[ P{sw} \approx V{R} \cdot Q{rr} \cdot f_{sw} \]
- TO-247-2/-3/DO-247AC różnią się liczbą wyprowadzeń i izolacją kolektor-radiator.
Aspekty etyczne i prawne
- Wszystkie wymienione diody dostępne w wersjach zgodnych z RoHS/REACH.
- W aplikacjach sieciowych > 1 kV należy uwzględnić normy bezpieczeństwa (PN-EN 50178, UL 1557).
Praktyczne wskazówki
- Montaż: moment dokręcenia 1,0–1,8 Nm, stosować podkładki izolacyjne lub pełną izolację ISOPLUS-247, jeśli radiator jest uziemiony.
- Pomiar t_rr/Q_rr – mostek dynamiczny zgodny z JESD24-2.
- Test termiczny: ΔT_j < 25 K przy warunkach znamionowych ⇒ dobra wymiana ciepła.
Ewentualne zastrzeżenia lub uwagi dodatkowe
- Diody SiC mają wyższy koszt (≈ 3-6× Si FRED), ale korzyści energetyczne często kompensują cenę w ciągu jednego roku pracy.
- W topologiach rezonansowych (LLC) dioda może pracować w trybie miękkiego przełączania – wówczas korzyść z SiC bywa mniejsza.
Sugestie dalszych badań
- Analiza kosztu cyklu życia (LCC) Si vs. SiC przy częstotliwościach 65–200 kHz.
- Weryfikacja wpływu charakterystyki „soft” vs „hard” recovery na emisję EMI w układach > 600 V.
- Test AEC-Q101 (125 °C/1 000 h) dla aplikacji automotive HV-DC.
Krótkie podsumowanie
Ultraszybką diodę 1 000 V w obudowie TO-247 można dobrać spośród serii onsemi RURG-x0100, ST STTH-x010, Vishay VS-xPF/EPF-10, IXYS DSEI-xx-10A lub – w wersji o minimalnych stratach przełączania – z diod SiC Schottky 1 200 V (np. Infineon CoolSiC™). Ostateczny wybór powinien bazować na prądzie średnim, czasie odzyskiwania (trr lub Q_c), ograniczeniach termicznych i budżecie. Przy f_sw > 50 kHz SiC Schottky niemal zawsze zapewni najwyższą sprawność i najprostsze chłodzenie.
Zadaj dodatkowe pytanie Sztucznej Inteligencji
Zastrzeżenie: Odpowiedzi udzielone przez sztuczną inteligencję (model językowy) mogą być niedokładne i wprowadzające w błąd. Elektroda nie ponosi odpowiedzialności za dokładność, rzetelność ani kompletność prezentowanych informacji. Wszystkie odpowiedzi powinny być zweryfikowane przez użytkownika.