Zamienniki tranzystora 2N60 – FQP2N60C, STP2N60, IRFBC20, superjunction 600V MOSFET
Pytanie
Zamiennik za 2n60
Odpowiedź Sztucznej Inteligencji
Bezpośrednia odpowiedź na pytanie
- Najczęściej stosowanymi, pewnymi zamiennikami dla tranzystora 2N60 (N-MOSFET 600 V / 2 A, TO-220/TO-220FP) są m.in.:
• FQP2N60C / FQPF2N60C (onsemi)
• STF2N60 / STP2N60 (ST Microelectronics)
• IRFBC20, IRFBC30, IRFBC40 (Infineon/IR)
• SSS2N60B, SSW2N60B (Jilin, Sino‐Micro)
• SPA02N60C3, SPA03N60C3 (Infineon CoolMOS C3)
• TK2A60DA, TK3A60DA (Toshiba)
- Wybieraj element o: V_DS ≥ 600 V, I_D ≥ 2 A, R_DS(on) ≤ 5 Ω (przy V_GS = 10 V) i tej samej obudowie/pinoucie.
Kluczowe punkty
- Zgodność napięciowa (600 … 650 V) i prądowa (≥ 2 A).
- R_DS(on) jak równe lub niższe od 5 Ω.
- Zbliżone Q_g, C_iss i czasy przełączania w układach impulsowych.
- Ta sama obudowa (TO-220/TO-220FP) i pinout G-D-S.
Szczegółowa analiza problemu
-
Charakterystyka oryginału (typowe wartości 2N60/FQP2N60C)
• V_DS = 600 V • I_D = 2 A (@ T_c = 25 °C) • R_DS(on)_max ≈ 4,7 Ω
• Q_g ≈ 9 … 12 nC • C_oss ≈ 145 pF • T_r ≈ 35 ns • P_d = 50 W (TO-220)
-
Dobór zamiennika – kryteria hierarchiczne
a) Parametry statyczne (V_DS, I_D, R_DS(on), P_d).
b) Parametry dynamiczne (Q_g, C_iss, czasy przełączania) – kluczowe w SMPS.
c) Termiczne (R_thJC, typ obudowy).
d) Bezpieczeństwo pracy (SOA, avalanche energy E_AS).
-
Analiza wybranych zamienników
Symbol |
V_DS [V] |
I_D [A] |
R_DS(on) max [Ω] |
Q_g typ [nC] |
Obudowa |
Uwagi praktyczne |
FQP2N60C |
600 |
2 |
4,7 |
9,5 |
TO-220 |
Pin-compatible, najbliższy oryginał. |
STP2N60 |
600 |
2 |
4,3 |
9 |
TO-220 |
Minimalne różnice, bez modyfikacji układu. |
IRFBC20 |
600 |
1,9 |
5 |
18 |
TO-220 |
Zbliżone parametry, ale wyższy Q_g – wolniejsze przełączanie. |
IRFBC30 |
600 |
2,1 |
3,5 |
24 |
TO-220 |
Niższe R_DS(on), Q_g wyższy – wymaga mocniejszego drivera. |
IRFBC40 |
600 |
2,5 |
1,2 |
39 |
TO-220 |
Dużo niższe R_DS(on), bardzo wysoki Q_g – tylko do wolnych aplikacji. |
SPA02N60C3 |
650 |
2,3 |
2,2 |
6 |
TO-220 |
Superjunction – lepsze R_DS(on) i mały Q_g, drop-in upgrade. |
STF2N60 (FP) |
600 |
2 |
4,3 |
9 |
TO-220FP |
Obudowa izolowana, mniejsza P_d, termika! |
-
Elementy, których NIE należy traktować jako zamienników
• IRF740 (400 V) – zbyt niskie napięcie.
• BUZ71 / BUZ72 (50 V / 100 V) – zupełnie inna klasa napięciowa.
-
Zastosowania i wrażliwość na parametry
• Zasilacze impulsowe (flyback/forward ≤ 100 kHz) – krytyczne: R_DS(on), Q_g, C_oss.
• Układy liniowe (np. klasa A/B, proste ściemniacze) – ważniejsze: SOA, termika, P_d.
• Aplikacje wysokoprądowe – rozważ mocniejsze wersje 3N60, 4N60, 5N60 z niższym R_DS(on).
-
Test kompatybilności
• Porównaj pełne noty katalogowe (w tym wykresy SOA).
• Zmierz wydajność drivera bramki: I_gate_peak ≥ Q_g·f_sw·2.
• Sprawdź temperaturę złącza w warunkach maksymalnych – symulacja lub pomiar termowizją.
Aktualne informacje i trendy
- Superjunction MOSFETy 600 / 650 V (Infineon CoolMOS, ST SuperMESH, onsemi FDsuper) oferują R_DS(on) nawet poniżej 0,4 Ω przy tej samej obudowie, redukując straty i temperaturę.
- Pojawiają się 650 V tranzystory GaN-HEMT, które przy prądach 2 A mają ekstremalnie niski Q_g (< 2 nC) i znacznie mniejsze straty przełączania – możliwe, choć droższe ulepszenie w SMPS ≥ 100 kHz.
- Trend RoHS3/REACH – nowe serie (np. SPA02N60C3) są w pełni zgodne; stare 2N60 bywa już EoL.
Wspierające wyjaśnienia i detale
- RDS(on) wpływa liniowo na stratę przewodzenia: \(P_{cond}=I_D^2·R\{DS(on)}·D\) (D – cykl pracy).
- Q_g i Ciss decydują o stracie przełączania: \(P_{sw}=Q_g·V_{GS}·f_{sw}\) + \(0,5·C_{oss}·V_{DS}^2·f\{sw}\).
- Obudowy TO-220FP mają ~4 × większą rezystancję termiczną niż TO-220 – ograniczenie mocy.
Aspekty etyczne i prawne
- W urządzeniach podlegających certyfikacji (CE, UL) wymiana elementu na niekwalifikowany odpowiednik może unieważnić deklarację zgodności.
- Tranzystory wysokonapięciowe pracują bezpośrednio na sieci – należy zachować wymagania bezpieczeństwa dotykowego (Basic / Reinforced insulation) i odstępy na płytce.
- Zgodność z dyrektywą RoHS oraz brak chińskich podróbek – korzystaj ze sprawdzonych dystrybutorów (Digi-Key, Mouser, TME, Farnell).
Praktyczne wskazówki
- Jeśli oryginał był w TO-220FP, a nowy element jest w TO-220, zamontuj podkładkę mikową i tulejkę izolującą.
- Przy zamianie na MOSFET z dużo niższym R_DS(on) zmniejsz rezystor bramkowy lub dodaj „snubber” RC – ograniczysz oscylacje.
- Po wymianie wykonaj pomiar temperatury radiatora przy maksymalnym obciążeniu; T_case < 90 °C zalecane dla długiej żywotności.
- W SMPS przetestuj przebiegi napięć i prądów oscyloskopem ≥ 200 MHz, aby wykryć ewentualne oscylacje bramki.
Ewentualne zastrzeżenia lub uwagi dodatkowe
- Same podstawowe parametry (V_DS, I_D, R_DS(on)) nie gwarantują pełnej zamienności; w układach wysokoczęstotliwościowych kluczowe są Q_g i C_oss.
- Różne technologie (planar vs. superjunction) mają różne przebiegi odzyskiwania diody wewnętrznej – może to wpływać na emisję EMI.
- Niektóre listy internetowe (np. BUZ71, IRF740) zawierają elementy niekompatybilne napięciowo – przed zakupem zawsze weryfikuj datasheet!
Sugestie dalszych badań
- Analiza superjunction vs. GaN dla aplikacji > 50 kHz pod kątem sprawności i emisji.
- Modelowanie termiczne 3D z użyciem narzędzi FEM (ANSYS, Simcenter) dla radiatorów o ograniczonej przestrzeni.
- Charakterystyka SOA tranzystorów 600 V w zwarciu do szyny – przydatne w zasilaczach aktywnego PFC.
- Badania niezawodnościowe (HTRB, H3TRB) nowych serii 650 V superjunction podniesionych do 175 °C.
Krótkie podsumowanie
Tranzystor 2N60 to klasyczny 600 V/2 A N-MOSFET. Bezpieczne zamienniki to FQP2N60C, STP/STF2N60, IRFBC20-40 oraz nowsze superjunction 02-03N60C3. Kluczowa jest zgodność napięciowa, prądowa, R_DS(on) i parametrów dynamicznych; stare propozycje typu IRF740 czy BUZ71 nie spełniają wymagań. Zawsze porównuj pełne datasheety, uwzględnij chłodzenie, a w obwodach impulsowych zweryfikuj Q_g i czasy przełączania.
Zastrzeżenie: Odpowiedzi udzielone przez sztuczną inteligencję (model językowy) mogą być niedokładne i wprowadzające w błąd. Elektroda nie ponosi odpowiedzialności za dokładność, rzetelność ani kompletność prezentowanych informacji. Wszystkie odpowiedzi powinny być zweryfikowane przez użytkownika.